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F50 光学膜厚测量仪
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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膜厚测量仪FE-3
稳定性白色LED光源测量项目多层膜膜厚解析用途光学薄膜(硬涂层,AR膜,ITO等)FPD相关(resist,SOI,SiO2等)膜厚量测仪FE-3测试实例
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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太阳能膜厚纳米厚度测量仪 F50
太阳能膜厚纳米厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘,样品直径可达
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海洋光学膜厚测量仪
膜厚测量仪通过薄膜表面与基底材料反射光的干涉现象,可快速可靠地测量半透明及透明膜的厚度。非接触式测量,不会破坏测试样品。 NanoCalc测试系统主要包括:宽带光源、高性能线阵CCD光谱仪、传输
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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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光学膜厚仪
、色度 波长范围:380-1000nm 膜厚精度:1nm 厚度范围:300-400,000 Angstrom (依样品不同而异) 检测速度:1-3 sec 检测平台:10cm
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国产膜厚检测台阶仪
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